靜電場描繪實驗儀   型號：JDC-4
一、產(chǎn)品簡介
    本設(shè)備在技術(shù)上采用了細(xì)工藝，大幅度提高使用壽命，淘汰了原來導(dǎo)電橡膠探頭易耗、更換頻繁的弱點，改為紫銅探頭。結(jié)構(gòu)由原來的雙層改為單層，使儀器使用更方便，測試更直觀，記錄更。并真正做到儀器的一體化，使用運輸保管更方便。在價格上做到提質(zhì)不提價。
二、技術(shù)參數(shù)
JDC-4靜電場描繪實驗儀  
1、導(dǎo)電層均勻性相對誤差＜3%。  
2、電與鍍膜層接觸電阻＜0.1Ω。  
3、鍍層與電的阻值比＞104.  
4、測量點與描繪點之間誤差＜1mm.  
5、實驗值與理論值的相對誤差＜5%。  
6、鍍層的強(qiáng)度，經(jīng)smc-1型強(qiáng)度試驗儀，經(jīng)過一萬次磨擦試驗，鍍膜完好無損。  
7、電源輸出2v—10v連續(xù)可調(diào)。  
8、電源的內(nèi)阻＜0.1Ω。  
9、電源調(diào)整率優(yōu)于0.5%。  
10、三位半液晶顯示。

三、基本原理
在一些科學(xué)研究和實踐中，往往需要了解帶電體周圍靜電場的分布情況，一般來說帶電體的形狀比較復(fù)雜，很難用理論方法進(jìn)行計算。用實驗手段直接研究或測繪靜電場通常也很困難。因為儀表（或其探測頭）放入靜電場，總要使被測場原有分布狀態(tài)發(fā)生畸變，而且除靜電式儀表之外的一般磁電式儀表不能用于靜電場的直接測量，因為靜電場中不會有電流流過，對這些儀表不起作用。所以，人們常用“模擬法"間接測繪靜電場的分布。